電鍍膜厚測量儀是專業測(ce)試金屬電鍍(du)(du)(du)膜(mo)厚(hou)的儀器，主(zhu)要針(zhen)對鍍(du)(du)(du)金，鍍(du)(du)(du)銀，鍍(du)(du)(du)鋅，鍍(du)(du)(du)錫，鍍(du)(du)(du)銅，鍍(du)(du)(du)鎳(nie)，鍍(du)(du)(du)鈀，鍍(du)(du)(du)銠等鍍(du)(du)(du)層厚(hou)度(du)。電鍍(du)(du)(du)膜(mo)厚(hou)儀可(ke)滿足不同規(gui)格樣(yang)品的測(ce)試，同時(shi)移動樣(yang)品平(ping)臺可(ke)以滿足不同點(dian)樣(yang)品測(ce)試，實現了智能化(hua)操作。　

　　電鍍膜厚測量儀工(gong)作原理：X射線光譜方法測定(ding)(ding)金屬(shu)鍍層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)厚度是基(ji)(ji)于一(yi)(yi)束強烈而狹窄的(de)(de)(de)(de)多色X射線與(yu)基(ji)(ji)體(ti)和覆(fu)(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)(de)相互作用。此相互作用產(chan)生(sheng)離散波(bo)長和能(neng)量(liang)的(de)(de)(de)(de)二(er)次輻(fu)(fu)射，這(zhe)些二(er)次輻(fu)(fu)射具有構成覆(fu)(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)和基(ji)(ji)體(ti)元素特征(zheng)。覆(fu)(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)單(dan)位(wei)(wei)面(mian)積質(zhi)量(liang)和二(er)次輻(fu)(fu)射強度之(zhi)間存在一(yi)(yi)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)(de)關系。該關系首(shou)先(xian)由已知單(dan)位(wei)(wei)面(mian)積質(zhi)量(liang)的(de)(de)(de)(de)覆(fu)(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)校(xiao)正標準(zhun)塊校(xiao)正確(que)定(ding)(ding)。若覆(fu)(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)材料的(de)(de)(de)(de)密度已知，同時又給(gei)出實際的(de)(de)(de)(de)密度，則這(zhe)樣的(de)(de)(de)(de)標準(zhun)塊就能(neng)給(gei)出覆(fu)(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)線性(xing)厚度。　　

　　電(dian)鍍(du)(du)膜厚儀對材料表面保護、裝飾形(xing)成的覆(fu)(fu)蓋層(ceng)(ceng)進行厚度(du)測量(liang)的儀器(qi)，測量(liang)的對象包(bao)括涂(tu)層(ceng)(ceng)、鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)、貼(tie)層(ceng)(ceng)、化學生成膜等。覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)厚度(du)測量(liang)已成為加工工業、表面工程質量(liang)檢測的重要一(yi)環，是產品達到優等質量(liang)標準的*手段。　　

　　電鍍(du)膜厚儀使(shi)用中儀器維護與(yu)檢修(xiu)的相關注意事項作(zuo)簡單(dan)闡述(shu)：　　

　　1.儀器應防止(zhi)潮(chao)濕、過熱和接觸腐(fu)蝕性(xing)氣體和液體。　　

　　2.不可晃動或揪(jiu)扯探(tan)頭線。　　

　　3.儀(yi)器應保持清潔。

　　4.儀器長期不(bu)用時應(ying)取出電池。

　　5.測量不正常時應(ying)作(zuo)下述處(chu)理：　

　　A：查電壓是(shi)否正(zheng)常，電池正(zheng)負極是(shi)否接觸(chu)良(liang)好(hao)。　

　　B：測量方法是(shi)否得當。　　

　　C：重(zhong)大故障送(song)廠(chang)或廠(chang)維(wei)修部修理。　

　　D：每次使用必須先插上探頭然后再開機，否則儀器不自檢。