金屬元素標準片X射線熒光測厚儀標準樣品專業用(yong)于X射線測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)（膜(mo)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)）在(zai)測(ce)金(jin)(jin)屬鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)度(du)時進行(xing)的(de)標(biao)準(zhun)化校(xiao)準(zhun)及(ji)建立測(ce)試檔案。也就是(shi)我們在(zai)膜(mo)厚(hou)(hou)(hou)測(ce)試中常用(yong)的(de)標(biao)準(zhun)曲(qu)線法，是(shi)測(ce)量(liang)(liang)已(yi)知厚(hou)(hou)(hou)度(du)或組成(cheng)(cheng)的(de)標(biao)準(zhun)樣(yang)品，根據熒光X-射線的(de)能量(liang)(liang)強度(du)及(ji)相(xiang)應鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)度(du)的(de)對應關(guan)系，來得到標(biao)準(zhun)曲(qu)線。以此標(biao)準(zhun)曲(qu)線來測(ce)量(liang)(liang)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)樣(yang)品，以得到鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)度(du)或組成(cheng)(cheng)比率。對于PCB、五金(jin)(jin)電鍍(du)和(he)半導體等(deng)行(xing)業使用(yong)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)來檢測(ce)品質(zhi)和(he)控制成(cheng)(cheng)本起到了很重要的(de)作用(yong)。

　　膜厚(hou)標準片采(cai)用了磁性測厚(hou)法：是(shi)一種超小(xiao)型丈(zhang)量儀，它能(neng)快速，無損傷，切(qie)確地進行鐵磁性金屬(shu)基體上(shang)的噴涂。電鍍層(ceng)厚(hou)度(du)的丈(zhang)量。可(ke)普遍(bian)用于制造業(ye)，金屬(shu)加工(gong)(gong)(gong)業(ye)，化工(gong)(gong)(gong)業(ye)，商檢(jian)(jian)等(deng)檢(jian)(jian)測領域。出(chu)格適用于工(gong)(gong)(gong)程現場丈(zhang)量。

　　膜厚(hou)標準(zhun)片采用(yong)(yong)(yong)(yong)磁感(gan)應(ying)原理時(shi)，利用(yong)(yong)(yong)(yong)從測(ce)頭(tou)經過非(fei)鐵磁覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)而流(liu)入鐵磁基(ji)(ji)體的(de)(de)(de)(de)磁通的(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)(xiao)，來(lai)測(ce)定(ding)覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度。也可以測(ce)定(ding)與之對應(ying)的(de)(de)(de)(de)磁阻的(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)(xiao)，來(lai)表示其覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度。覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)越(yue)厚(hou)，則(ze)磁阻越(yue)大(da)，磁通越(yue)小(xiao)(xiao)。利用(yong)(yong)(yong)(yong)磁感(gan)應(ying)原理的(de)(de)(de)(de)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)，原則(ze)上(shang)可以有導(dao)(dao)磁基(ji)(ji)體上(shang)的(de)(de)(de)(de)非(fei)導(dao)(dao)磁覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度。如(ru)果(guo)覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)材料也有磁性(xing)，則(ze)要求(qiu)與基(ji)(ji)材的(de)(de)(de)(de)導(dao)(dao)磁率(lv)之差足夠大(da)（如(ru)鋼上(shang)鍍鎳）。當軟芯上(shang)繞(rao)著線圈(quan)的(de)(de)(de)(de)測(ce)頭(tou)放在被(bei)測(ce)樣本上(shang)時(shi)，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)自動輸出測(ce)試電流(liu)或測(ce)試信(xin)號(hao)。早期的(de)(de)(de)(de)產品采用(yong)(yong)(yong)(yong)指(zhi)(zhi)針(zhen)式表頭(tou)，測(ce)量(liang)感(gan)應(ying)電動勢的(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)(xiao)，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)將該信(xin)號(hao)放大(da)后(hou)來(lai)指(zhi)(zhi)示覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度。近年來(lai)的(de)(de)(de)(de)電路設(she)計引入穩頻(pin)、鎖相、溫(wen)度補償等地新技術，利用(yong)(yong)(yong)(yong)磁阻來(lai)調制測(ce)量(liang)信(xin)號(hao)。還采用(yong)(yong)(yong)(yong)設(she)計的(de)(de)(de)(de)集成電路，引入微(wei)機，使測(ce)量(liang)精度和(he)重現性(xing)有了大(da)幅度的(de)(de)(de)(de)提高（幾乎達一(yi)個數量(liang)級）。

　　金屬元素標準片X射線熒光測厚儀標準樣品采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。