（一）iEDX-150μWT X射線測厚儀產品優勢

1. 鍍層(ceng)(ceng)檢測(ce)(ce)，多鍍層(ceng)(ceng)檢測(ce)(ce)可達5層(ceng)(ceng)，精度及穩(wen)定(ding)性高(gao)（見以下產(chan)品特(te)征詳述）。

2. 多導毛(mao)細(xi)管配置，光斑(ban)尺寸50um

3. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達(da)250*250mm。

4. 激光定位。

• 可檢測軟硬板(ban)電(dian)鍍(du)層厚度。

• 運(yun)行及維護(hu)成本低、無(wu)易損(sun)易耗品(pin)，對使用環境(jing)相(xiang)對要求低。

• 可進行未知標(biao)樣掃描、無標(biao)樣定性，半定量分析。

• 操作簡單、易學易懂(dong)、精準無損、高(gao)品質、高(gao)性能(neng)、高(gao)穩(wen)定(ding)性，快(kuai)速出檢測結果(guo)。

• 可(ke)針對客(ke)戶(hu)個性化要(yao)求量身定做輔(fu)助(zhu)分(fen)析配(pei)置(zhi)硬件。

• 軟件*升級。

• 無(wu)損檢測，一(yi)次(ci)性(xing)購買標樣可長期使用。

• 使用(yong)安心(xin)無(wu)憂，售后服(fu)務響應時間24H以內，提供*保姆式服(fu)務。

• 可以遠程(cheng)操作，解(jie)決(jue)客(ke)戶使(shi)用中(zhong)的后顧之憂。

（二）iEDX-150μWT X射線測厚儀產品特征

• 高性能高精度X熒光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜儀（XRF）

• 計算機 / MCA(多通道(dao)分析儀(yi))

2048通道逐次近似計算(suan)法ADC（模(mo)擬數字轉換器）。

• Multi Ray. 運用(yong)基本參數（FP）軟件，通過簡單的(de)(de)三步進(jin)行無標樣標定，使用(yong)基礎參數計算方法，對樣品(pin)進(jin)行精(jing)確的(de)(de)鍍層厚度分(fen)析。

• MTFFP (多層薄膜基(ji)本(ben)參數法) 模(mo)塊進行(xing)鍍層厚度分(fen)析

多鍍層厚度同時測量

4.1 單性金屬鍍層厚度測量。

4.2 合金鍍層厚度測(ce)量。

4.3 雙鍍層厚度(du)測(ce)量。

4.4 雙鍍層(ceng)（其(qi)中一層(ceng)是合金(jin)）厚(hou)度測量。

4.5 三鍍層(ceng)厚(hou)度測量。

4.6 測量(liang)點大小：50um。